常用物性测试仪
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Aquila 英国NKD8000 高级薄膜测定系统
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NKD-8000系统综合了光学、电子学和高级分析软件,是目前测定多层薄膜和基片的折射率、吸收系数和厚度最精确、最易用的系统。NKD-8000系列产品具有全自动、可同时测定透过光谱和反射光谱,入射光角度从0°到90°连续改变。对分光光谱仪而言,这是一项前所未有的新功能,使得NKD-8000适用于最具挑战性的光学测量。对多层薄膜和基片的n、k和d的测定变得准确、快捷