X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术，可以直接应用于现场、原位分析，在材料分析领域占有重要地位。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪正是基于X射线荧光分析技术设计的一款新型X射线荧光光谱分析仪。可实现对样品中所含元素快速，无损，准确的定性、定量分析。采用XRF9分析仪进行成分辨别无需复杂的化学前处理，是最快速，经济的方法。

1.样品无损检测：固体样品可直接检测，无需化学前处理。
2.分析速度快：测试时间小于300S
3.多元素同时分析.
4.仪器采用先进的多光束可调节系统：为各元素测试提供最佳条件
5.仪器采用自动调节双层六通道滤光系统：保证各元素得到最佳测试效果
6.高分辨率探测器：无需液氮冷却，运行成本低
7.XYZ三维运动样品台：样品运动自动控制，测试点自由选取。
8.CCD摄像及样品自动定位系统：各方位监测样品，测试部位图像直接显示在样品测试报告。
9.软件系统：功能强大，操作容易。
10.完善的辐射安全防护

仪器系统组成及规格
1.高压电源：最高50Kv/1mA
2.X射线管：Ag靶（W、Mo、Rh靶可选）
3.滤光片：六通道
4.探测器：Si-PIN电子冷却
5.信号处理系统：PX-1
6.数据处理系统：XRF9软件
7.防护机柜：电机连锁防护