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品牌：微纳Winner
本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小
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品牌：Oxford牛津
CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
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品牌：Oxford牛津
CMI730测厚仪能同时为磁性基材上的非磁性涂/镀层、导性基材上的非导性涂/镀层，以及磁性基材上的电镀镍层提供高科技的无损涂镀层厚度检测。CMI730测厚仪所使用的大型带背光的液晶显示器，保证您能从任意角度以及较远的距离轻松观察到这台测厚仪测量的数据和结果，并能在最短的时间内提供最精确的测量结果。
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品牌：Oxford牛津
牛津仪器CMI760测厚仪专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。
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品牌：Oxford牛津
CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。
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品牌：Oxford牛津
CMI243镀层测厚仪是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使这款镀层测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。
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品牌：Oxford牛津
双功能技术特色：基于磁感应和电涡流技术，具有统计分析功能和USB电脑接口。CMI250是一款多功能仪器，其技术基础是我们久负盛名的涡流/磁感应双探头技术。
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品牌：Oxford牛津
第一台带温度补偿功能的测量孔内镀铜厚度的测厚仪CMI511是手持的电池供电的测厚仪。这款测厚仪能于侵蚀工序前、后，测量孔内镀层厚度。独特的设计使CMI511测厚仪能够完全胜任对双层或多层电路板的测量，甚至可以穿透锡和锡/铅抗蚀层进行测量。
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品牌：Oxford牛津
CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪，它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度，范围从1/8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米)。
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品牌：Oxford牛津
牛津仪器CMI563表面铜厚测量仪专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
仪器介绍NanoDLS高灵敏在线粒度分析仪基于动态光散射原理，采用专利的样品池设计，可在流动状态下实时测量粒度及其分布的功能。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
90Plus激光粒度仪基于动态光散射原理，是一种快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
精确的介电常数值对于Zeta电位的测量与计算是非常重要的。由于混合溶剂的介电常数无法直接从手册中查到，因而对于混合溶剂的介电常数的测量就显得非常必要。全新的BI-870介电常数测定仪不仅操作简单，而且也为Zeta的测量提供了可靠的保证. 纯净液体的介电常数值可以直接从手册上查询，混合体系的介电参数直接测量成为了最便捷方法。而且，介电常数值是参与Zeta电位计算的参数之一。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
ZetaPALS是目前唯一能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS（相位分析光散射）技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
由于颗粒在悬浮液中的布朗运动，使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号，可以得到颗粒运动的扩散信息后，进而利用Stokes－Einstein方程计算得出颗粒粒径及其分布。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
布鲁克海文公司最先将光导纤维引入光散射研究测试中，设计研制出适于高浓度分散体系粒度测量的光散射分析仪。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
BI-DCP是基于经典的离心/沉降原理，通过高精度的数字式电机控制，是迄今为止具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确率最高的测量仪器。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末等行业的质量控制方面。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
BI-DCP是基于经典的离心/沉降原理，通过高精度的数字式电机控制，是迄今为止具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确率最高的测量仪器。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末等行业的质量控制方面。
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品牌：Brookhaven布鲁克海文
90Plus激光粒度仪基于动态光散射原理，是一种快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。
