天光PM-1平面平晶
平面平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。
*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。
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平面直径d(mm)
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基本参数
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1级
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价格
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2级
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d范围内
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2/3d范围内
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d范围内
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2/3d范围内
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30
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0.03
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----
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275
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0.1
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0.05
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45
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325
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60
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375
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80
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0.05
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0.03
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575
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100
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1125
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150
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5000
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200
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0.08
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0.05
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9200
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0.12
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0.06
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250
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0.1
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0.05
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18400
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0.15
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0.08
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300
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0.15
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0.09
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55000
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0.2
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0.1
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