BILON上海比朗LA-S全能型植物图像分析仪系统
产品说明:
该多用途全能型的植物叶面积、根系、年轮、叶色分析仪是一种方便、可在野外或实验室使用的综合性分析仪器，精确度远高于传统的分析仪（传送或基于相机的类型）。采用全球统一标准，可精确、快速、无损伤地测定叶片的叶面积和叶色参数，也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量，还可进行叶片颜色分析(包括按叶片颜色自动分档查询，用于植物或作物氮肥状态的快速评价)。系统的植物年轮分析模块可用于树木年代学、年轮生态环境变化学、年轮气候学、地理科学、考古学研究。植物根系分析模块为可选模块，用于洗根后的专业根系分析，可分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，其功能强大，操作简单，运用于根系形态和构造研究。该仪器综合了植物、农作物在叶面积、根系、年轮、叶色这4大方面的分析功能，广泛适用于农业、林业、气象等部门。
技术参数:
◆叶分析测量参数：叶面积 (可累计面积)、叶片面积（可累计面积)、叶子穿孔面积 (可累计面积)、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 (不受叶片孔洞影响)、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量，叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积；不规则叶片形态分析，辅助真彩病理分析，叶片颜色分析(包括按叶片颜色自动分档查询，用于氮肥状态的外观评价)。
◆植物年轮测量分析：可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、生成年表、数据分析处理能力。
◆植物根系可分析测量：1)根总长；2)根平均直径；3)根总面积；4)根总体积；5)根尖计数；6)分叉计数；7)交叠计数；8)根直径等级分布参数，等。
匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可读取处理TIFF、BMP、JPEG标准格式的图像。
植物叶面积分析 植物叶色比对分档
植物年轮分析1 植物年轮分析2
植物根系分析1 植物根系分析2